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SPC统计过程控制


时间地点:
2006-5-26 至 2006-5-27  上海      授课讲师专家
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学习费用: 2400 元/位
培训对象: 企业研发部、技术部、企划部、制造部、品管部、业务部、人力资源部、资材部等主管人员
课程信息:
课程大纲 

课程目标: 
SPC是Shewhart博士首先应用正态分布特性于生产过程中的管理,目前已成为生产过程中控制稳定产出的主要工具之一,在生产型企业中应用的非常广泛。 
有效的实施、应用SPC可以及时发现过程中的问题,采取适当的改善措施,在发生问题之前,消除问题或降低问题带来的损失。 
通过课程的学习,让学员了解SPC的原理,和正确应用SPC的技巧。让SPC不仅仅是绘图,而成为动态的管理手段,确实的协助管理者掌握维持过程稳定的能力。 

课程大纲: 
一、SPC的基础 
Ø SPC起源、背景 
Ø SPC的假设条件 
Ø 统计数据的类型(计数、计量) 
Ø 正态分布 
Ø 中值、极差、标准偏差的计算 
Ø 过程的变异 
二、SPC中的抽样计划 
Ø 样本大小的确定 
Ø QC曲线与a、b风险 
Ø 抽样检验 
Ø Ca、Cp、Cpk、Ppk、Cmk的计算 
Ø 认识测量误差与对SPC的干扰 
三、SPC的应用实施 
Ø 数据收集 
Ø SPC管制图介绍 
n 计量型管制图 
² I-MR管制图 
² X-bar-R图 
² X-bar-S图 
² 规格和控制界限的分析 
² 过程控制实例 -- 弯折试验 
n 计数型控制图 
² P管制图 
² nP管制图 
² c管制图 
² u管制图 
² 过程控制实例 
Ø 控制图的选用原则 
Ø 控制图诊断方法 
Ø 使用控制图注意事项 
Ø 练习制作控制图,并进行失控分析 
四、SPC与质量、成本改善(案例分析) 


课程时间:2006年5月26-27日 
参考条件: 企业研发部、技术部、企划部、制造部、品管部、业务部、人力资源部、资材部等主管人员。 

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